INTT日本語ミーティング
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Asia/Tokyo
Description
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一般議題 20m
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ハーフエントリー問題 20mSpeaker: Mr Tomoki Harada (Rikkyo)- intt7 felix0のhalf entry chipの回復に問題があるのは数の問題？それともtypeA-Bの違い？
-- ROCからの距離はtypeBのほうが近いので距離の問題ではない
- １％のhalf entry chipは回復した
- Slide6、preliminaryリクエストは左のプロットだけで十分
- 左図の２６チップ全部示すのではなく、custom controlしたchipとしてないチップを分けたパネルで表示するほうがいい？
-- レジェンドをRun with original setting や Run with customized settingのようにすると同時に表示して混乱が少ない
- INTTグループとして新しいパラメータで走ることに同意している
- preGMでのpreliminaryリクエストは原田さん自身で発表。中川さんはサポート- 解析ノートはできるだけ早くsPHENIXにながす -
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23:00
INTT検出効率 20mSpeaker: Takahiro Kikuchi (Rikkyo university)- スライド２はヒット期待位置から実際のヒット分布を引いた差分（対応するヒットがないときの分布）
- 低いpTですり抜けが増えるのは、磁場ありの時に原点から方位角でおおわれている検出器レイヤー間をすり抜ける可能性が増えるから
- 電荷が逆だとすり抜けにくくなる？
-- レイヤーの間をすり抜ける場合は正負電荷どちらも同等すり抜ける
- マッピングはすり抜けの分布図のこと-- 使う単語や説明を統一したほうが良い
- pTのスライスをもっと細かくできるか？-- 0.1GeVスライスくらいでから確認して、統計が必要ならもう少し赤いスライスにする
- simulationdデータを見せるためにpreliminaryはいらない。ただし解析ノートは通常と同様に３日前に提出しなければならない -
23:00
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DAC0 Scan update 20mSpeaker: Nao Morimoto
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