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INTT日本語ミーティング

→ Asia/Tokyo
Description

Meeting URL
https://bluejeans.com/664569583
 

    • 1
      Bus-extenderの測定
      Speaker: Miu Morita
      20210305_MiuMorita.pdf
    • 2
      INTT テストベンチの検出効率

      トリガーシンチレーター 3 つを使った検出効率解析について報告します。シリコンのType-AとType-Bの間に2mm強のdead regionがあります。その資料。

      Speaker: Dr Genki NUKAZUKA (RIKEN BNL Research Center)
      20210305_efficiency.pdf
      210305_DeadRegion.pptx
    • 3
      宇宙線測定におけるINTTの検出効率
      Speaker: Sakiko Nishimori
      20210305_nishimori.pdf