INTT日本語ミーティング

Tuesday Jul 15, 2025, 10:00 PM → 11:20 PM Asia/Tokyo

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https://riken-jp.zoom.us/j/93991701519?pwd=1JKqgFZd1RCOHguLeuCJDIzvCamQyO.1

10:00 PM → 10:20 PM 奈良女４年生自己紹介（２）

10:20 PM → 10:40 PM 一般議題

250715_INTTJmtg_General.pdf

10:40 PM → 11:00 PM DAC0 Scan

Speaker: Nao Morimoto

DAC0 Scan Final.pdf

- DAC0=15の時のプロットのビンニングが荒いのは図を拡大したため
- まだDAC0>25でも高すぎる気がする。

-- Charge sharingも考慮すると実際のヒットでも低いDAC値の場合がが多い

-- Without hot/coldでもDAC0値によってまだ変化があるのはCharge sharingの効果が効いているのでは？
- 杉山さんのtest beam結果のDAC分布は、full depletion voltageではなかったため、本来はもう少し高い値になるはず

- なぜ位置分解能がstripの幅÷√12なのか考えよう（一様な確率分布の分散の計算）

-- Runの情報等もプロットにのせたほうが良い

- クラスター分布の検証もした方がよい

11:00 PM → 11:20 PM Update on Half entry issue

Speaker: Mr Tomoki Harada (Rikkyo)

Digital-Control-analysis3_TOMOKI.pdf

- Intt1のホットな箇所はテスト時の設定を戻し忘れたため。データサイズも２倍に大きくなった。次のテストRunでは解決される。
- Intt7のmodule0が全体の半分がホットになり、かつ2ランで違う半分がホットになったのは調査中

-- このmoduleが全体のhalf entry chipの約半分を占めており、このmodule以外は100％half entry chipは回復した

- Half entryチップはinttcalibでcoldと判定されて、実際の解析からは省かれているはず

-- inttcalibでCold channelをカットするのはやりすぎかも

- 金曜のINTT会議で現在の結果を報告し次のステップを議論する。修正版のdigicon mapを試すのはおそらく来週になる

-- 金曜のINTT会議はシフト中なのでスライドだけはアップロードしておいて、参加が難しいようなら関口or榎園が代理報告する