第16回「Muon科学と加速器研究」研究会

宇宙線ミュオン起因ソフトエラーの正しい理解に向けて

14 Jan 2026, 11:05

25m

RIBF棟2階 大会議室 (理化学研究所仁科センター)

Speaker

昌宜 橋本 (京都大学)

Description

半導体メモリにミュオン起因で発生するソフトエラーについて研究が進められているが、半導体チップ内に停止するミュオンの評価にとどまっている。高速ミュオンも含めた宇宙線ミュオンの正しい影響を理解するために必要な今後の取り組みについて紹介する。