8–11 Jan 2026
Asia/Tokyo timezone

ePIC-TOF検出器用ストリップ型AC-LGADセンサーのビームテスト準備

Not scheduled
20m

Speaker

Satoshi Yano (Hiroshima University)

Description

電子・イオン衝突型加速器(EIC)における ePIC 実験で使用する AC-LGAD TOF 検出器の開発を進めている。2025 年 12 月には、センサーの性能評価を目的として、DESY の電子ビームを用いたビームテストを実施した。本講演では、そのビームテストの概要および実施に向けた準備について報告する。

Author

Satoshi Yano (Hiroshima University)

Presentation materials