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INTT日本語ミーティング

→ Asia/Tokyo
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https://riken-jp.zoom.us/j/93991701519?pwd=1JKqgFZd1RCOHguLeuCJDIzvCamQyO.1

    • 22:00 → 22:20
      一般議題 20m
      250819_INTTJmtg_General.pdf
      - ISMDは中川さん・関口さん両名が参加予定（関口さんはトークが通れば）

      - ISポスターのsPHENIXの内部締め切りは8/27
      - 原田さんのBNL出張は１２月予定（１１月３～１２月５日はTRIUMF出張）
      - 秋葉さんは１０月７～１７日予定で出張
      - 奈良女４年生は１台のレンタカーで充分だったので、レンタカーを１台返却
      - 奈良女はオーサーシップの確認の確認をする

      -- 去年のM2が論文に名前を載せるために、今年のActive Authorに入れないといけないのか？
    • 22:20 → 22:40
      ハーフエントリー問題 20m
      Speaker: Mr Tomoki Harada (Rikkyo)
      250819日本語ミーティング_原田.pdf
      - intt7 felix0のhalf entry chipの回復に問題があるのは数の問題？それともtypeA-Bの違い？
      -- ROCからの距離はtypeBのほうが近いので距離の問題ではない
      - １％のhalf entry chipは回復した
      - Slide6、preliminaryリクエストは左のプロットだけで十分
      - 左図の２６チップ全部示すのではなく、custom controlしたchipとしてないチップを分けたパネルで表示するほうがいい？
      -- レジェンドをRun with original setting や Run with customized settingのようにすると同時に表示して混乱が少ない
      - INTTグループとして新しいパラメータで走ることに同意している
      - preGMでのpreliminaryリクエストは原田さん自身で発表。中川さんはサポート
      - 解析ノートはできるだけ早くsPHENIXにながす
    • 22:40 → 23:00
      INTT検出効率 20m
      Speaker: Takahiro Kikuchi (Rikkyo university)
      20250820_菊池陸大.pptx
      - スライド２はヒット期待位置から実際のヒット分布を引いた差分（対応するヒットがないときの分布）
      - 低いpTですり抜けが増えるのは、磁場ありの時に原点から方位角でおおわれている検出器レイヤー間をすり抜ける可能性が増えるから
      - 電荷が逆だとすり抜けにくくなる？
      -- レイヤーの間をすり抜ける場合は正負電荷どちらも同等すり抜ける
      - マッピングはすり抜けの分布図のこと
      -- 使う単語や説明を統一したほうが良い
      - pTのスライスをもっと細かくできるか？
      -- 0.1GeVスライスくらいでから確認して、統計が必要ならもう少し赤いスライスにする
      - simulationdデータを見せるためにpreliminaryはいらない。ただし解析ノートは通常と同様に３日前に提出しなければならない
    • 23:00 → 23:20
      DAC0 Scan update 20m
      Speaker: Nao Morimoto
      DAC0 Scan Update.pdf
      - ８月のデータのcollisionレートは４０～５０ｋHzで６月の４～５倍程度
      - collisionのインターバルが短くなると、pile-upの効果でADCが小さくなる（hot channelが減る？）効果も期待されたが、結果はそうはなっていない
      - DAC0=25にした場合Hit map online monitorのthresholdをJosephに変更してもらう必要あり
      - 金曜のINTTミーティング発表後にデフォルト値を変更